АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП НАНОТОП-207М
Прибор предназначен для изучения топографии, сил адгезии, трения и упругих свойств поверхности. Область применения прибора: физика твердого тела; технология тонких пленок, материаловедение. Отображение результатов эксперимента и управление прибором осуществляется с помощью программы, работающей в среде WindowsXX.
Ближайшим аналогом прибора является атомно-силовой микроскоп производства NTMDT Pioner (Россия). При идентичных технических характеристиках НАНОТОП-207М отличается повышенной нагрузочной способностью столика образцов (до 100 г) и большей площадью сканирования, что позволяет и спользовать его не только в лабораторной практике, но и при инспекции деталей различного назначения в промышленности.
|
|
|
Общий вид прибора и управляющей программы
|
ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРИБОРА
Разрешение прибора (гор/верт), nm |
2/0.2 |
Площадь сканирования (макс), µm |
28х28 |
Размеры образца (макс), mm |
30х20х8 |
Режим работы: |
Контактный (топография, силы трения) Динамический (топография, фаз. контраст)
Спектроскопия поверхностных сил |
Прибор установлен:
ИММС НАН Беларуси
KITEC, KIST 2 прибора, LG 2 прибора (Ю. Корея)
ENISE (Франция)
|
|