homeRUSENG

ОТДЕЛ 4 "Трение, смазка и эксплуатационная стойкость материалов"

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП НАНОТОП-207М


Прибор предназначен для изучения топографии, сил адгезии, трения и упругих свойств поверхности. Область применения прибора: физика твердого тела; технология тонких пленок, материаловедение. Отображение результатов эксперимента и управление прибором осуществляется с помощью программы, работающей в среде WindowsXX.
Ближайшим аналогом прибора является атомно-силовой микроскоп производства NTMDT Pioner (Россия). При идентичных технических характеристиках НАНОТОП-207М отличается повышенной нагрузочной способностью столика образцов (до 100 г) и большей площадью сканирования, что позволяет и спользовать его не только в лабораторной практике, но и при инспекции деталей различного назначения в промышленности.


Общий вид прибора и управляющей программы

ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРИБОРА


Разрешение прибора (гор/верт), nm
2/0.2
Площадь сканирования (макс), µm
28х28
Размеры образца (макс), mm
30х20х8
Режим работы:
Контактный (топография, силы трения) Динамический (топография, фаз. контраст)
Спектроскопия поверхностных сил

Прибор установлен:
ИММС НАН Беларуси
KITEC, KIST 2 прибора, LG 2 прибора (Ю. Корея)
ENISE (Франция)



Copyright © 2005-2009 Институт механики металлополимерных систем им. В.А. Белого НАН Б
Адрес: Республика Беларусь, 246000, г. Гомель, ул. Кирова 32а. тел. +375-232-775-212; факс. +375-232-775-211; e-mail: mpri@mail.ru

Разработка mpri@mail.ru